Utilize este identificador para referenciar este registo: http://hdl.handle.net/10451/1172
Título: A differential mechanical profilometer for thickness measurement
Autor: Alves, J. Maia
Brito, M. C.
Serra, J. M.
Vallêra, A. M.
Palavras-chave: Differential profilometer
Thickness measurement
Data: 2004
Editora: American Institute of Physics
Resumo: A low cost differential profilometer based on standard commercial displacement transducers is fully described. Unlike most common profilometers this device can be used to measure the thickness profile of samples having both surfaces irregular. A sensitivity of about 0.2 mm, independent of the sample thickness is achieved.
URI: http://hdl.handle.net/10451/1172
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